光致發光（熒光）光譜測量系統

光致發光 (photoluminescence) 即 PL，是用紫外、可見或紅外輻射激發發光材料而產生的發光，在半導體材料的發光特性測量應用中通常是用激光（波長如 325nm、532nm、785nm 等）激發材料（如 GaN、 ZnO、GaAs 等）產生熒光，通過對其熒光光譜（即 PL 譜）的測量，分析該材料的光學特性，如禁帶寬度等。光致發光可以提供有關材料的結構、成分及環境原子排列的信息，是一種非破壞性的、高靈敏度的分析方法，因而在物理學、材料科學、化學及分子生物學等相關領域被廣泛應用。

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熒光光譜儀在許多領域中被廣泛應用，如：材料學（寬禁帶半導體材料發光特性檢測）、生物學（葉綠素和類胡蘿卜素檢測）、生物醫學（惡性病的熒光診斷）和環境監測中都可以用到熒光檢測技術。

OmniFluo “卓譜”系列熒光光譜測量系統采用模塊化的組合方式集成而成，吸收了我公司 15 年的光譜系統設計、制造經驗，通過不同配件的選擇，不僅可以實現熒光光譜測量，還能夠實現功能的多樣化，如 PL、拉曼、透射反射吸收、探測器定標等光譜測量，有效解決了傳統熒光分光光度計光譜范圍有限及拓展功能不足的問題。

OmniFluo “卓譜”系統采用高性能“譜王”Omni-λ系列光譜儀 / 單色儀、高靈敏度單通道或多通道探測器，采用單光子計數技術或鎖相放大技術，大的提高了熒光探測的靈敏度，使得純水拉曼信噪比達到 1000:1 以上的水平。

OmniFluo “卓譜”系統將 PL 和 PLE 兩種熒光測試需求*結合，采用模塊化設計，可以根據需要進行系統架構的靈活調整，實現常溫及低溫下的熒光光譜、激發光譜測量。

組合式熒光光譜測量系統翱塵蒼頸貴瀕恥辭性能特點

■ 模塊化的結構設計——各功能模塊*結合，根據需要進行選擇，后續升級方便

■ 合理的空間布局——在滿足功能需求的前提下盡可能占用更少的空間，且方便測量操作

■ 超寬光譜范圍*——200nm-2500nm

■ *的發射光譜校正功能*——讓光譜測量更精準且具有可比性

■ 寬波段、高輸出功率光源——150W、500W氙燈光源可選

■ 多種激光器波長可選*266蒼塵/325蒼塵/375蒼塵/405蒼塵/442蒼塵/532蒼塵/785蒼塵/1064蒼塵等

■ 量子產率測量功能可選**——擴展選項

■ 電致發光(EL)功能可選**——擴展選項

■ 超低溫測量附件可選**——可提供≤10K的超低溫測量

*需根據實際需要進行配置確定；

**選配項，請詳細咨詢。

OmniFluo?參數規格表 (*)